蔡司在德国雷根斯堡的MC2013展会上首次展示其新的电子束双束系统，具有高速的材料样品分析,处理和应用的广泛多样性的特征。曾经需要几天才能完成的3维研究，如今，蔡司的双束系统使其在一夜之间便可完成。

新开发的聚焦离子束（FIB）双束系统可以快速精准的进行材料处理，而此处理过程也可利用场发射扫描电镜来进行高分辨的实时观察。在整个电压和电流范围内的高分辨环境下，用户就可快速，准确地进行实验工作。稳定的系统设计帮助用户实现长时间重复实验的完成。可选配的高效率切割设备（Massive Ablation Laser）可快速进行样品制备来获取客户感兴趣的深层区域。这充分拓宽了其应用范围，为材料与生命科学用户提供了解决方案。双束系统可对磁性与非导电样品进行高分辨成像，完美的3D分析能力以及独特的材料衬度等等，都为材料科学家们带来了极大的便利。

在细胞与组织生物学中，生物科学家可以使用双束系统进行高Z轴分辨率的快速成像。扫描透射电子探测器（STEM）可检测其他的结构信息。该系统提供了全自动的透射样品制备方案。同时，开放可选的软件使得用户实现应用程序集成和自动化。双束系统的模块化设计为用户提供了灵活弹性的升级空间，让您始终处于科技的前沿。

该系统拥有两个版本，Crossbeam 340卓越的GEMINI I VP（可变压力）镜筒可以为发气性和非导电样品的原位试验提供强大的分析性能。归功于GEMINI II镜筒中的双聚光镜系统，Crossbeam 540能在更短的时间内获取更多信息，该系统即便在低电压与高束流下依然可提供高分辨成像，分析快捷，便于操作。

与蔡司 X射线显微镜相比，双束系统使完成横跨几个数量级的全面标本分析成为可能。X射线显微镜先是提供未破坏样品的3D形貌，之后用聚焦离子束处理并用电子束分析感兴趣的特定区域。